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By John Carson y Stephen N. Luko
Oct 16, 2025
El Subcomité sobre Control estadístico de la calidad (E11.30), integrante del Comité sobre Calidad y estadística (E11), se centra en el desarrollo de estándares para el control estadístico de procesos (statistical process control, SPC) y métodos relacionados, como muestreo de aceptación, diagramas de control, capacidad de procesos y dígitos significativos y redondeo.
Los estándares del subcomité se basan en parte en los fundamentos del Manual de presentación de datos original de ASTM [ahora ASTM 7, Manual sobre la presentación de datos y el análisis de los diagramas de control (Manual on Presentation of Data and Control Chart Analysis)] y en los procedimientos de muestreo de aceptación de los estándares militares (MIL-STD) de los EE. UU. Estos, a su vez, se desarrollaron a partir de contribuciones básicas de estadísticos, como Harold Dodge, Walter Shewhart y otros, antes y durante la 2.ª Guerra Mundial. En sus primeros años, a partir de 1946, el E11 contó con la colaboración de destacados estadísticos aplicados que contribuyeron a los estándares de los que ahora es responsable el E11.30. Estaban entre ellos, Dodge, A. E. R. Westman, O. P. Beckwith, Charles Bicking, S. Collier, J. H. Curtiss, W. E. Deming, E. G. Olds, L. E. Simon, Grant Wernimont, S. S. Wilks y W. J. Youden. A mediados de la década de 1970, el comité se abrió para todos los miembros de ASTM y creció casi diez veces. En la actualidad, el subcomité cuenta con 133 miembros, de los que 123 son votantes oficiales.
El estándar más conocido de E11, por ventas y por referencia de otros estándares, es la Práctica estándar para el uso de dígitos significativos en los datos de prueba a fin de determinar la conformidad con las especificaciones (E29). Este estándar se publicó originalmente en 1940 y se ha sometido a muchas revisiones a lo largo de los años con el fin de mantenerlo actualizado con los cambios de la tecnología, así como de la práctica.
Varios de los estándares del E11.30 abordan el muestreo de aceptación, que utilizan los productores para calificar lotes o series de producción de productos para la venta y los clientes para la aceptación de los productos. La Práctica estándar para el uso de planes de muestreo AOQL y LTPD orientados al proceso (E1994) preserva y es una guía para su uso, los planes de muestreo Dodge-Romig originales de límite de calidad promedio de salida (average outgoing quality limit, AOQL) y porcentaje de tolerancia de lote defectuoso (lot tolerance percent defective, LTPD).
Varios de estos estándares de muestreo conservan los procedimientos de muestreo de los estándares militares, reconociendo el uso continuo de MIL-STD-105E, MIL-STD-414, MIL-STD-1916 y MIL-STD-1235B en sectores que apoya ASTM. Estos estándares dejaron de tener el respaldo del Departamento de Defensa de los EE. UU. a mediados de la década de 1990 y se encuentran agotados. En todos los estándares de preservación de los MIL-STD, el contenido técnico se mantiene exactamente como en su publicación original. El texto se actualizó a fin de reflejar la forma y el estilo de los estándares ASTM. Cuando se consideró apropiado, se actualizaron algunas tablas con dígitos significativos adicionales y se hicieron correcciones en los valores de las tablas en los que se detectaron errores en el original.
La Práctica estándar para el muestreo de un flujo de producto por atributos indexados por AQL (E2234) conserva los planes de muestreo por atributos basados en el límite de calidad aceptable (acceptable quality limit, AQL) del MIL-STD-105E original. Los atributos con indicadores de calidad que son del tipo aprobado/no aprobado, en lugar de cantidades continuas. La Práctica estándar para el muestreo de un flujo de producto por variables indexadas por AQL (E2762) conserva los planes de muestreo por variables del MIL-STD-414 original. Las variables son indicadores de calidad medidos que toman valores continuos. La Práctica estándar para el muestreo continuo de uno o más niveles de un flujo de producto por atributos indexados por AQL (E2819) preserva el MIL-STD-1235B original. Esta proporciona una base para el muestreo de un flujo uniforme de lotes, en lugar de una producción de lotes intermitente, utilizando atributos indexados por AQL. Incluye esquemas de muestreo secuencial, que son de implementación más compleja, pero, también, mucho más eficientes que los diseños de tamaño de muestra único.
La Guía estándar de los métodos preferidos de aceptación de producto (E2910) conserva el MIL-STD-1916 "para apoyar el cambio de una estrategia de inspección (detección) basada en el AQL a la implementación de una estrategia eficaz basada en la prevención, que incluya un sistema de calidad integral, la mejora continua y una asociación con el consumidor".
La Práctica estándar de medición de la capacidad y el desempeño de procesos (E2281) es un recurso vital para la evaluación de la capacidad de los procesos de fabricación o servicios con respecto a las especificaciones. (Vea la columna Data Points reciente, "Cpk vs. Ppk: aclarando la confusión," por Carol Parendo).
La Práctica estándar para establecer un límite superior de confianza para una fracción o número de ítems no conformes, o una tasa de ocurrencia para no conformidades, utilizando datos de atributos, cuando existe respuesta cero en la muestra (E2334) es un importante estándar para procesos de defectos "cero" o muy pocos o para utilizar tamaños de muestra menores a fin de monitorear la calidad cuando se emplean niveles de inspección especiales. Permite limitar la "cantidad no conforme o fracción desconocida o una tasa de ocurrencia para no conformidades" cuando se observan defectos cero en la muestra en tres casos de muestreo a partir de:
Aunque "defectos cero" es una idea muy difundida en el control de calidad, las implicaciones de las fallas cero en la muestra dependen mucho del tamaño de la muestra y de la tasa de posibles errores de clasificación. "En este estándar se tiene en cuenta el error de clasificación, pero solo cuando las tasas de clasificación errónea se comprenden bien o se conocen y pueden aproximarse numéricamente".
La Práctica estándar para el uso de diagramas de control en el control estadístico de procesos (E2587) cubre el uso de los diagramas de control en el SPC. Cubre la mayoría de los tipos de diagramas de control que se usan comúnmente en la industria. Aunque el muestreo de aceptación tiene muchos usos esenciales, como la inspección de recepción de materiales y piezas, las comprobaciones finales sobre productos terminados y la inspección de recepción por parte del cliente, en la opinión de los autores, el diagrama de control es la herramienta más potente y eficaz del SPC. Además de sus usos en la manufactura, es una herramienta vital para el control y la mejora de la calidad en los laboratorios.
El Subcomité sobre Control estadístico de la calidad continúa mejorando estos estándares. Por ejemplo, a principios de este año se introdujeron importantes adiciones en el estándar para diagramas de control (E2587). Aunque los estándares del E11 puede ser muy técnicos, se desarrollan y se mejoran con el objeto de que sean herramientas viables para muchos tipos de profesionales y, a la vez, satisfacer las necesidades expresadas por la gran comunidad de usuarios de ASTM. Si usted es profesional de SPC, su participación será bienvenida.
Referencias
September / October 2025
