STP Published: 1973
STP536-EB

Progress in Flaw Growth and Fracture Toughness Testing

Editor(s): J. Kaufman, J. Swedlow, H. Corten, J. Srawley, R. Heyer, E. Wessel, G. Irwin

Table of Contents

J. G. Kaufman

C. L. Ho, O. Buck, H. L. Marcus

G. H. Lindsey

G. P. Sendeckyj

M. A. Schroedl, C. W. Smith

M. P. Wnuk

R. A. Schmidt, P. C. Paris

R. C. Rice, R. I. Stephens

V. W. Trebules, R. Roberts, R. W. Hertzberg

J. M. Barsom

W. C. Harrigan, D. L. Dull, L. Raymond

E. J. Imhof, J. M. Barsom

R. J. Bucci, B. N. Greene, P. C. Paris

J. R. Rice, P. C. Paris, J. G. Merkle

J. A. Begley, J. D. Landes

J. G. Merkle

C. Buchalet, T. R. Mager

D. A. Shockey, D. R. Curran

J. G. Kaufman, P. E. Schilling

A. M. Sullivan, J. Stoop, C. N. Freed

D. Y. Wang

F. G. Nelson, J. G. Kaufman

R. W. Judy, R. J. Goode

R. W. Hertzberg, J. A. Manson, W. C. Wu

P. N. Randall, J. G. Merkle

H. Okamura, K. Watanabe, T. Takano

J. G. Bjeletich, T. M. Morton

J. F. Kiefner, W. A. Maxey, R. J. Eiber, A. R. Duffy

R. W. Derby

Price:
Contact Sales
Related
Reprints and Permissions
Reprints and copyright permissions can be requested through the
Copyright Clearance Center
Details
Developed by Committee: E08
Pages: 486
DOI: 10.1520/STP536-EB
ISBN-EB: 978-0-8031-8151-9
ISBN-13: 978-0-8031-6660-8