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Magazines & Newsletters / ASTM Standardization News Septiembre/Octubre 2009 Espectroscopía de correlación de fotones
La revisión de una importante norma de nanotecnología de ASTM incluye un estudio entre laboratorios a gran escala realizado en 2008. La norma revisada, la E2490, Guía para la medición de la distribución del tamaño de las partículas de nanomateriales en suspensión por espectroscopía de correlación de fotones (PCS por sus siglas en inglés), está bajo la jurisdicción del Subcomité E56.02 sobre Caracterización: propiedades físicas, químicas y toxicológicas, parte del Comité E56 de ASTM International sobre Nanotecnología. Según Alan Rawle, gerente de aplicaciones de Malvern Instruments Inc. y co-presidente del E56.02, el estudio entre laboratorios incluyó 26 laboratorios que hicieron un total de 7700 mediciones. Las mediciones se realizaron utilizando varias técnicas de corroboración entre las que estuvo la espectroscopía de correlación de fotones, tema de la E2490. Rawle también reconoce con gratitud que la cooperación y el grado de participación del personal del National Institute of Standards (Instituto Naiconal de Normas) y del National Cancer Insitute (Instituto Nacional del Cáncer) tuvieron un papel decisivo en el éxito del estudio entre laboratorios. La PCS también es conocida como dispersión dinámica de la luz o dispersión casi elástica de la luz. Esta técnica se utiliza para medir el tamaño de partículas muy pequeñas (por lo general más pequeñas que 100 nm, hasta 1 nm o menos). Rawle indicó que la caracterización de la distribución por tamaño fue uno de los tres parámetros clave (los otros fueron la composición y la morfología) identificados por los miembros como fundamental para el desarrollo de la nanotecnología. El panel consideró que el desarrollo de normas es crucial para el crecimiento de la nanotecnología. "Los fabricantes que ya están elaborando nanomateriales rutinariamente necesitarán la E2490 para comprender la base de la técnica y sus restricciones, en particular las resultantes del estudio de precisión y desviación," explicó Rawle. "El documento puede utilizarse para entrenar en la técnica a los recién llegados, ya que es una guía de práctica más que una norma basada en una receta. Para los investigadores en el campo, es esencial disponer de datos sobre la distribución por tamaño ya que es uno de los principales parámetros para la caracterización." Rawle destacó que los usuarios de la E2490 se encuentran tanto en el área industrial como de la investigación, en donde se sintetizan, especifican o utilizan nanomateriales. La norma también es clave para las cuestiones ambientales y legales relacionadas con los nanomateriales. El Subcomité D56.02 recibe con agrado las contribuciones de todos los interesados en futuras revisiones de la E2490. "Sería grandioso ver la adopción correspondiente por parte de los usuarios finales tanto en las normas de materiales como en la documentación impresa relacionada," dijo Rawle. "El E56 da la bienvenida a los grupos de investigación universitarios y de la industria que deseen participar." Información Técnica: Alan Rawle, Malvern Instruments Inc., Westborough, Massachusetts Teléfono: 508/768-6400, interno 434 Personal de ASTM: Timothy Brooke Teléfono: 610-832-9729 | ||